개요
Chroma 6500 Series는 사용자가 프로그래밍이 가능한 고정도 파형을 만들어내기 위하여 Direct Digital Synthesis(DDS) 파형 발생기가 내장되어 있다. Sinewave가 찌그러지거나 잘려진 상태로 전원을 공급받는 제품의 시험을 위하여 0 - 43% 찌그러짐과 0 - 100% 진폭을 발생시킬 수 있을 뿐만 아니라 순시정전, 과도전압과 같은 전압 및 주파수의 변화 를 다양하게 발생시키므로써 전원 장애현상을 모의 시험할 수 있다. 30가지 Harmonic파형 을 사용할 수 있고, AC Line Harmonic Immunity규격 적용 시험을 Field에서 쉽게 할 수 있다.
특징
1. Vrms, Irms, Ipk+, Ipk-, Power, Frequency, Crest factor, Power factor, Inrush current, VA, VAR등을 정밀하고 고속으로 측정할 수 있도록 16비트 정밀측정용 회로가 내장되어 있다.
2. IEC 61000-4-11, MIL. STD 704D 규격준거 및 Power analyzer 6630과 더불어 사용 시 IEC 1000-3-2 Harmonic, IEC 1000-3-3 Flicker 규격 시험을 할 수 있다.
3. IEEE488.2 & RS-232C bus Interface등을 이용하여 작동시킬수 있으며, Instrument Drivers(Option)를 사용시 Labview를 이용하여 어떠한 ATE Application도 가능하다.
4. 자가진단 설계가 되어 있고, Overload, Overpower, Overtemperature, Overcurrent, Fan fail에 대한 보호 회로가 내장되어 있다.
5. 프로그램으로 Sine, Square, Clipped Sine파형 출력 가능하며, 전압, 한계전류, 주파수, 상, distortion설정이 가능하다.
6. PWM 기술로 최소형, 최경량 상태에서 높은 출력을 발휘 할 수 있다.